耗散型石英晶體微天平的檢測技術和主要功能特色
點擊次數(shù)：1275 更新時間：2021-04-15
耗散型石英晶體微天平基于耗散因子檢測技術的界面跟蹤探測系統(tǒng)進行分子與界面相互作用的研究，工作時，先將芯片放置于流動池中，將流動池固定于樣品平臺上，樣品平臺與電子單元和電腦主機連接，樣品通過蠕動泵流經(jīng)流動池中的芯片上方；
芯片振動狀態(tài)與芯片上方物質的改變量，包括質量，厚度，密度和柔軟程度有關，所以軟件通過數(shù)學分析的方法可以獲取芯片上方物質的這些變量。測定吸附層質量，并同步提供粘彈性等結構信息。
通過軟件設置，電子單元對芯片兩面施加一個電壓隨后斷開，芯片發(fā)生振動、產(chǎn)生電信號并傳輸回電子單元，振動的頻率和振幅記錄在軟件系統(tǒng)里；
當樣品流經(jīng)芯片上方，有物質吸附在芯片上或者將芯片上的物質沖走時，都會改變芯片的振動狀態(tài)并被記錄下來。
可測定多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附行為，同時可檢測分子的結構變化以及吸附與解析的動態(tài)過程。
耗散型石英晶體微天平的主要功能特色：
(1)作為具有耗散因子檢測功能的二代石英晶體微量天平，可以對多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附進行研究，應用范圍包括蛋白質、脂質、聚電解質、高分子和細胞/細菌等與表面或與已吸附分子層之間的相互作用。
(2)可以測定非常薄的吸附層的質量，并同步提供如粘彈性等吸附層結構信息。非常靈敏和快速，可提供多個頻率和耗散因子數(shù)據(jù)，用于充分了解在傳感器表面吸附的分子的狀態(tài)。
