如何使用石英晶體微天平進行高精度質量測量？
點擊次數(shù)：1130 更新時間：2025-04-13
石英晶體微天平是一種靈敏度較高的質量檢測儀器，測量精度可達納克級，能滿足眾多領域對微小質量變化的高精度測量需求。 
使用石英晶體微天平進行高精度質量測量，準備工作至關重要。先要選擇合適的微天平，不同型號和品牌的微天平性能、精度和適用范圍有所差異，需根據(jù)實際測量需求來挑選。
其次是選擇合適的石英晶片。通常兼容不同尺寸和覆蓋材料薄膜的石英晶片，有金、ITO導電玻璃等覆蓋多種材料薄膜的石英晶片可供選擇。樣品制備也很關鍵，樣品需均勻地涂布在電極表面，才能獲得重復性、再現(xiàn)性好的測量結果。制樣方法以真空鍍膜為優(yōu)，其次是噴霧和電鍍。
測量過程中，要確保儀器處于穩(wěn)定的工作環(huán)境，避免溫度、濕度、振動等外界因素干擾。將制備好的石英晶片安裝到微天平的探頭部位，連接好儀器，開啟電源，讓儀器預熱一段時間，使儀器達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)。
在QCM測試的同時，可同步進行電化學掃描，還能控制溫度。使用配套的控制軟件設置測量參數(shù)，包括測量時間、測量頻率等。開始測量后，軟件會實時記錄石英晶體振蕩電路輸出電信號的頻率變化，根據(jù)石英晶體的固有振動頻率與晶體上物質加質量后振動頻率的變化成正比例關系，將頻率變化轉化為質量變化數(shù)據(jù)。
測量結束后，對獲得的數(shù)據(jù)進行分析處理。根據(jù)測量目的，計算出樣品的質量變化、吸附層厚度變化等信息。
同時，要對測量結果的準確性和可靠性進行評估，若存在誤差，需分析誤差產生的原因，并采取相應的措施進行改進。
使用石英晶體微天平進行高精度質量測量，需要做好充分的準備工作，嚴格按照操作步驟進行測量，并對測量數(shù)據(jù)進行科學分析，才能獲得準確可靠的測量結果。
